반도체 후공정 밸류체인 관련주
프로브카드는 반도체 후공정에서 사용되는 테스트 장비입니다. 이는 웨이퍼 수준에서 반도체 칩을 전기적으로 테스트하기 위해 사용됩니다.
- 전기적 연결: 웨이퍼 위의 개별 칩과 테스트 장비를 전기적으로 연결합니다.
- 테스트: 각 칩이 제대로 작동하는지 확인하기 위해 다양한 전기 신호를 보내고 반응을 측정합니다.
- 결함 확인: 결함이 있는 칩을 식별하여 생산 과정에서 문제가 생겼는지, 아니면 특정 칩에만 문제가 있는지 확인합니다.
- 프로브 핀: 웨이퍼의 각 칩에 접촉하여 전기 신호를 전달하는 작은 바늘.
- 카드 본체: 프로브 핀을 지지하고, 테스트 장비와의 연결을 가능하게 하는 구조물.
- 인터페이스: 테스트 장비와 연결되는 부분으로, 프로브카드와 테스트 시스템 간의 신호 전달을 담당합니다.
- 칩 수준 프로브카드: 각 칩을 개별적으로 테스트하는 데 사용됩니다.
- 웨이퍼 수준 프로브카드: 한 번에 여러 칩을 동시에 테스트할 수 있는 프로브카드입니다. 생산 효율성을 높이는 데 유리합니다.
- 생산 품질 향상: 결함이 있는 칩을 조기에 식별하여 불량품이 - 최종 제품으로 출하되는 것을 방지합니다.
- 비용 절감: 결함이 있는 제품을 조기에 걸러냄으로써 재작업이나 폐기 비용을 줄일 수 있습니다.
- 신뢰성: 소비자에게 제공되는 반도체 제품의 신뢰성을 보장합니다.